SJ 50597/42-1996 半导体集成电路 ＪＷ７９Ｌ０５（０６、０９、１２、１５、１８、２４）型三端固定负输出电压调整器详细规范
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基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路 ＪＷ７９Ｌ０５（０６、０９、１２、１５、１８、２４）型三端固定负输出电压调整器详细规范 |
| 英文名称： | Semiconductor integrated circuits-Detail specification for Types JW79L06,JW79L09,JW79L12,JW79L15,JW79L18 and JW79L24 three terminal fixed output negative voltage regulators |
| 中标分类： |
|
| 发布日期： | 1996-08-30 |
| 实施日期： | 1997-01-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 47页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类：
基本信息
| 标准名称： | 评估STM-N 接口差错性能的测量设备的要求 |
| 英文名称： | Requirements on measuring equipment to assess error performance on STM-N interface |
| 中标分类： |
通信、广播 >>
通信设备 >>
光通信设备 |
| 发布部门： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： | 1998-05-22 |
| 实施日期： | 1998-10-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2009-12-01 |
| 提出单位： | 原邮电部电信科学研究规划院 |
| 归口单位： | 原邮电部电信科学研究规划院 |
| 起草单位： | 武汉邮电科学研究院 |
| 起草人： | 周晓迈 |
| 出版社： | 人民邮电出版社 |
| 出版日期： | 1998-10-01 |
| 页数： | 24页 |
适用范围
本标准规定了评估STM-N接口差错性能的测量设备的要求。
本标准规定了一组测量模式，规定了差错性能测量设备的发生器和接收机的功能要求。
本标准适用于STM-N接口差错性能测量设备的生产和使用。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 通信 广播 通信设备 光通信设备
【英文标准名称】:StandardGuideforSelectionandUseofEtchingSolutionstoDelineateStructuralDefectsinSilicon
【原文标准名称】:造成硅的结构性缺陷的浸蚀溶液的选择与使用标准指南
【标准号】:ASTMF1809-2002
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;缺陷;腐蚀剂;腐蚀检查;半导体工艺;选择
【英文主题词】:defects;etchinspection;selection;caustics;semiconductortechnology;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:9P;A4
【正文语种】:英语
